著者典拠情報

著者標目形：
Biegelsen, D. K.
属性：
Personal
から見よ参照形：
Biegelsen, David K.
注記：
Tetrahedrally bonded amorphous semiconductors, 1981 (a.e.) t.p. (D.K. Biegelsen, Xerox Palo Alto Res. Ctr.)
Editor : Atomic-scale Imaging of surfaces and interfaces, c1993: t.p. (David K. Biegelsen)
著者典拠ID：
DA0234574X


1.

図書
図書
1. Atomic-scale imaging of surfaces and interfaces : symposium held November 30-December 2, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A.
editors, David K. Biegelsen, David J. Smith, S.Y. Tong
出版情報: Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society, 1993
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings ; v. 295
所蔵情報: 図書館
2.

図書
図書
2. Tetrahedrally bonded amorphous semiconductors : (Carefree, Arizona, 1981)
editors, R.A. Street, D.K. Biegelsen, J.C. Knights
出版情報: New York : American Institute of Physics, 1981
シリーズ名: AIP conference proceedings ; no. 73
所蔵情報: 研究室
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