著者典拠情報

著者標目形：
Chu, Wei-Kan
属性：
Personal
から見よ参照形：
Chu, W. K. (Wei-Kan)
注記：
His Backscattering ... 1978: t.p. (Wei-Kan Chu, IBM Dept. 171, Hopewell Junction, N.Y.)
Thin films and interfaces II, c1984: CIP t.p. (W.K. Chu)
著者典拠ID：
DA01604423


1.

図書
図書
1. Thin films and interfaces II : symposium held November 1983, in Boston, Massachusetts, U.S.A.
editors, J.E.E. Baglin, D.R. Campbell, W.K. Chu
出版情報: New York : North-Holland, c1984
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings ; v. 25
所蔵情報: 図書館
2.

図書
図書
2. Backscattering spectrometry
Wei-Kan Chu, James W. Mayer, Marc-A. Nicolet
出版情報: New York : Academic Press, c1978
所蔵情報: 図書館