物質・材料研究のための透過電子顕微鏡

種類:

図書

責任表示:

木本浩司 [ほか] 著

出版情報:

東京 : 講談社, 2020.7

著者名:

木本, 浩司 <DB0025544X>

三石, 和貴 <DB00255450>

三留, 正則 <DB00255461>

原, 徹

長井, 拓郎 <DB00255472>

講談社サイエンティフィク <DA00235015>

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ISBN:

9784065203866 [4065203864]    

注記:

結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。
その他の著者: 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎
編集: 講談社サイエンティフィク
引用文献、参考書・参考文献: 章末