Logic testing and design for testability
- 種類:
- 図書
- 責任表示:
- Hideo Fujiwara
- 出版情報:
- Cambridge, Mass. : MIT Press, c1985
- 著者名:
- 藤原, 秀雄(1946-) <DA00652704>
- シリーズ名:
- MIT Press series in computer systems <BA00107303>
- ISBN:
- 9780262060967 [0262060965]
- 注記:
- Bibliography: p. [272]-278
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