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Logic testing and design for testability

種類:
図書
責任表示:
Hideo Fujiwara
出版情報:
Cambridge, Mass. : MIT Press, c1985
著者名:
藤原, 秀雄(1946-) <DA00652704>  
シリーズ名:
MIT Press series in computer systems <BA00107303>
ISBN:
9780262060967 [0262060965]  CiNii Books  Calil
注記:
Bibliography: p. [272]-278
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